原子力显微镜的配件主要包括以下几个方面，这些配件根据不同的应用需求和实验目的进行选择和配置：
一、核心部件
探针（Probe）与悬臂（Cantilever）：
探针是AFM的关键部件，用于与样品表面进行相互作用，从而感知表面形貌信息。
悬臂则用于支撑探针，并将探针与样品间的相互作用力转化为可测量的信号。
激光检测系统：
包括激光器、光电二极管等，用于检测悬臂的微小形变，并将形变信号转化为电信号进行处理。
压电陶瓷扫描器：
用于控制探针在样品表面的精确移动，实现二维或三维扫描。
二、功能扩展配件
加热台（Heating Stage）：
用于对样品进行加热处理，以研究样品在不同温度下的表面形貌和性质。
环境控制腔（Environmental Chamber）：
提供一个可控的环境（如温度、湿度、气体成分等），用于研究样品在特定环境下的表面性质。
磁力显微镜（MFM）配件：
包括磁性探针等，用于研究样品表面的磁性质。
静电力显微镜（EFM）配件：
用于测量样品表面的电势和电荷分布。
力调制显微镜（FMM）配件：
用于研究样品表面的力学性质，如弹性模量、硬度等。
液体成像配件：
允许在液体环境中进行AFM原子力显微镜成像，适用于生物样品和其他需要在液体中研究的材料。
自动化和脚本开发工具：
提供软件接口和编程工具，允许用户自定义实验流程和数据分析方法。
三、辅助配件
隔振装置：
用于减少外部振动对原子力显微镜成像的影响，提高成像质量。
显微镜和成像系统：
配备光学显微镜或其他成像系统，用于辅助样品定位和成像结果分析。
样品台和夹具：
用于固定和支撑样品，确保样品在扫描过程中的稳定性和准确性。
软件和数据处理系统：
提供用户友好的操作界面和强大的数据处理功能，支持AFM原子力显微镜数据的采集、分析和可视化。
四、总结
原子力显微镜的配件种类繁多，涵盖了从核心部件到功能扩展配件以及辅助配件等多个方面。这些配件的选择和配置取决于具体的实验需求和样品特性。通过合理选择和配置这些配件，可以实现对样品表面形貌、性质以及与其他物理量之间关系的全面研究。