原子力显微镜测样品的步骤是一个精细且系统的过程，旨在获取样品表面的高精度形貌和物理性质信息。以下是AFM原子力显微镜测样品的主要步骤介绍：
一、样品准备
样品选择：根据实验需求选择合适的样品，原子力显微镜适用于多种类型的样品，包括金属、半导体、聚合物、生物样品等。
样品清洁：使用超声波清洗或其他方法去除样品表面的污染物和杂质，确保样品表面干净无杂质。
样品固定：将样品固定在样品台上，确保样品在测试过程中不会移动。对于液体样品，需要将其均匀分散在合适的底材上（如云母片、硅片），并确保无沉积，溶液澄清透明。
二、样品安装与调整
样品安装：将准备好的样品平稳地放置在AFM原子力显微镜的样品台上，并确保样品与原子力显微镜探针之间有足够的空间。
调整高度：使用样品台的高度调节装置，将样品调整到适当的位置，以便探针能够精确地接触样品表面。
三、探针选择与安装
选择探针：根据样品特性和测试目的选择合适的探针。不同的探针适用于不同的测试条件，例如刚性探针适合硬度测试。
安装探针：将选择好的探针安装在AFM原子力显微镜探针持有器上，并确保安装过程在洁净环境中完成。
四、设置扫描参数
扫描模式选择：原子力显微镜有多种工作模式，包括接触模式、轻敲模式（非接触模式）、力调制模式等。根据实验需求选择合适的扫描模式。
扫描区域设置：定义AFM原子力显微镜扫描的区域大小，以及扫描点数。
扫描速度调整：根据需要调整扫描速度，平衡分辨率和扫描时间。
五、开始扫描与数据记录
启动原子力显微镜：启动AFM原子力显微镜系统，并等待其初始化。
进行扫描：按照预设的参数开始扫描，观察样品表面的拓扑图像。
记录数据：在扫描过程中，原子力显微镜设备会实时记录探针与样品表面之间的相互作用力，并转换成表面形貌信息。
六、数据处理与分析
数据校正：对原始数据进行必要的校正，如背景扣除、平面拟合等。
图像生成：使用专门的软件将数据转换成直观的三维表面形貌图像。
数据分析：从图像中提取关键信息，如表面粗糙度、台阶高度、力学性质等，并进行进一步的分析。
七、停止扫描与设备维护
停止扫描：在完成扫描后，停止AFM原子力显微镜系统的运行。
断电与清洁：关闭原子力显微镜系统并断开电源。同时，对样品台、探针等部件进行清洁和维护，以确保下次实验的顺利进行。
综上所述，AFM原子力显微镜测样品的步骤包括样品准备、样品安装与调整、探针选择与安装、设置扫描参数、开始扫描与数据记录、数据处理与分析以及停止扫描与设备维护等多个环节。每个步骤都需要仔细操作以确保实验结果的准确性和可靠性。