原子力显微镜在控制参数方面，主要涉及到扫描模式、扫描速率、扫描范围、探针选择、激光校准以及反馈增益等多个方面。以下是对这些参数控制方法的详细说明：
1. 扫描模式选择
AFM原子力显微镜主要有三种操作模式：接触模式（Contact Mode）、非接触模式（Non-contact Mode）和轻敲模式（Tapping Mode）。
接触模式：探针针尖始终与样品表面保持接触，适用于硬度和稳定性较高的样品，但可能损坏柔软或易变形的样品表面。
非接触模式：探针在样品表面上方一定距离处振荡，通过检测范德华力等弱相互作用力进行成像，适用于柔软或易受损的样品，但分辨率较低且易受环境干扰。
轻敲模式：介于接触模式和非接触模式之间，探针以共振频率在样品表面上方振荡，并周期性短暂接触样品表面，适用于多种类型的样品，尤其是柔软或易变形的样品。
2. 扫描速率和扫描范围设置
扫描速率：根据实验需求和样品特性设置合适的扫描速率，较快的扫描速率可以提高成像效率，但可能会降低图像质量；较慢的扫描速率则能获得更高的图像分辨率。
扫描范围：根据需要观察的区域大小设置扫描范围，确保在成像过程中能够覆盖到所有感兴趣的区域。
3. 探针选择
根据样品的硬度、粗糙度以及所需的分辨率选择合适的探针。探针的材质、形状和尺寸都会影响成像效果。
在使用前，需要对探针进行校准和检查，确保其处于良好状态。
4. 激光校准
激光校准是确保原子力显微镜成像准确性的重要步骤。需要将激光束精确地对准探针悬臂的前端，并调整检测器的位置以接收反射光信号。
在不同操作模式下，激光校准的参数设置可能有所不同，需要根据实际情况进行调整。
5. 反馈增益调节
在扫描过程中，需要通过调节反馈增益（如Integral gain和Proportional gain）来控制探针与样品之间的相互作用力。
适当的反馈增益设置可以确保成像过程的稳定性和图像质量。在轻敲模式和接触模式下，可能需要根据Trace和Retrace曲线的重合情况来优化反馈增益设置。
6. 其他注意事项
在进行AFM原子力显微镜实验前，需要确保样品表面干净、平整且无明显污染。
在操作过程中，需要注意探针的安全使用和样品的保护，避免损坏探针或样品。
根据具体设备的不同，操作步骤和参数设置可能会有所差异，因此建议参考设备制造商提供的操作手册和指南进行操作。
综上所述，原子力显微镜的参数控制涉及多个方面，需要根据实验需求和样品特性进行综合考虑和设置。通过合理的参数控制，可以获得高质量的成像结果。