原子力显微镜因其独特的工作原理和广泛的适用性，更适合检测多种类型的样品。以下是AFM原子力显微镜更适合检测的样品类型及其特点：
1. 固体材料
薄膜样品：原子力显微镜可以检测直径小于12mm、高度小于3mm的薄膜样品，要求样品上下表面平整，高低起伏小于1μm。
块体样品：材料高度一般低于8mm，具体高度限制可能因仪器型号和配置而异。AFM原子力显微镜可以对这些样品进行无损测量，且垂直方向的分辨率高达0.01nm，适用于表征纳米片厚度等高精度需求。
固体粉末样品：虽然原子力显微镜对固体粉末样品的分散性要求很高，但溶解性或分散性较好的样品可以通过液体的形式进行测试。
2. 生物样品
AFM原子力显微镜在生物领域的应用日益广泛，可以检测包括蛋白、细胞及DNA等在内的生物样品。这些样品需要提供详细的制样过程，并考虑溶液中盐对测试结果的影响。生物样品表面应干净无污染物，且测试面应平整，以确保成像质量。
对于活细胞等生物样品，原子力显微镜的轻敲模式能够很大程度地降低针尖对表面结构的“搬运效应”，适合对柔软或有弹性的样品进行成像研究。
3. 液体样品
AFM原子力显微镜可以在液体环境下工作，对液体样品进行纳米级别的观察与探测。液体样品需要配好胶体溶液，保证样品均匀分散，无沉积，溶液澄清透明。
4. 特殊性质样品
原子力显微镜不**于检测样品的形貌，还可以对样品表面的诸多特性进行研究，如表面电势、磁场力、静电力、摩擦力等。这使得AFM原子力显微镜在材料学、物理学、化学、生物学等多个领域都有广泛的应用。
5. 高精度需求样品
原子力显微镜具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下对样品进行纳米级别的观察与探测。这种高精度使得AFM原子力显微镜在半导体加工过程中测量高纵比结构（如沟槽和台阶）时具有显著优势，能够无损地确定刻蚀的深度和宽度。
综上所述，原子力显微镜因其高精度、多环境适应性和广泛的检测能力，更适合检测固体材料（包括薄膜、块体和粉末样品）、生物样品、液体样品以及需要高精度测量的特殊性质样品。