原子力显微镜在采用接触模式进行测试时，对待测样品有一系列具体的要求。这些要求旨在确保测试的准确性和仪器的正常运行，同时保护样品免受不必要的损伤。以下是详细的要求：
样品类型及基本属性
样品类型：AFM原子力显微镜接触模式适用于多种类型的样品，包括固体、薄膜、粉末等。然而，对于特别柔软或易碎的样品，如生物细胞、某些高分子材料等，需要谨慎选择是否使用接触模式，以避免破坏样品结构。
样品尺寸：样品的尺寸应适合原子力显微镜的测试台和探针扫描范围。通常，样品需要被固定在适当的底材上，如硅片或云母片，以确保测试过程中样品的稳定性。
表面平整度：样品的表面应尽可能平整，以减少扫描过程中的噪音和误差。表面的高低起伏应小于AFM原子力显微镜的分辨率极限，以确保测试的准确性。
样品准备与处理
清洁度：样品表面应无污染物、油脂或其他杂质，这些物质可能影响原子力显微镜的测试结果。因此，在测试前应对样品进行彻底的清洁处理。
稳定性：在测试过程中，样品的温度和其他环境条件（如湿度、磁场等）应保持稳定，以避免对测试结果产生干扰。
分散性：对于粉末样品或需要溶解的样品，应确保其在测试前充分分散或溶解，并均匀涂布在底材上。
特定要求
硬度与粗糙度：由于接触模式需要探针与样品表面紧密接触，因此样品应具有一定的硬度以承受探针的压力。同时，样品的粗糙度不应过大，以免损坏探针或影响测试结果。
粘附性：样品表面应具有一定的粘附性，以确保在测试过程中不会从底材上脱落或移动。然而，过度的粘附性也可能导致样品表面的损坏或污染。
避免静电干扰：静电可能干扰AFM原子力显微镜的测试信号，因此应采取措施消除或减少样品表面的静电积累。
总结
综上所述，原子力显微镜在采用接触模式时，对待测样品的要求主要包括样品类型及基本属性的合适性、样品准备与处理的充分性以及特定要求的满足性。这些要求共同确保了AFM原子力显微镜测试的准确性和可靠性。在实际操作中，应根据样品的特性和测试需求选择合适的测试模式和参数。