AFM（Atomic Force Microscope），即原子力显微镜，是一种具有原子级高分辨的新型仪器。其特有的特点主要体现在以下几个方面：
高分辨率成像：
原子力显微镜具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下（空气或溶液环境）对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测，包括表面形貌的探测以及表面纳米级粗糙度的测量。
AFM原子力显微镜的垂直方向分辨率极高，约为0.01nm，能够很好地用于表征纳米片厚度。
三维表面成像：
与扫描电子显微镜（SEM）提供的二维图像不同，原子力显微镜能够提供真正的三维表面图。这种三维成像能力使得AFM原子力显微镜在观察复杂表面结构时具有显著优势。
非破坏性检测：
原子力显微镜在测量过程中不需要对样品进行特殊处理，如镀铜或碳，这些处理可能会对样品造成不可逆转的伤害。
AFM的轻敲模式在测量时与样品的接触时间非常短暂，相互作用力很小，通常为1皮牛顿（pN）~1纳牛顿（nN），因此对样品的破坏几乎消失。这使得AFM原子力显微镜特别适用于对生物大分子、聚合物等软样品进行成像研究。
环境适应性强：
原子力显微镜不仅可以在真空和大气环境下工作，还可以在液体环境下进行测量。这种广泛的环境适应性使得AFM原子力显微镜能够用于研究生物宏观分子甚至活的生物组织。
成像模式多样：
原子力显微镜具有多种成像模式，包括接触式、非接触式和轻敲式。这些不同的成像模式使得AFM原子力显微镜能够根据不同的样品特性和测量需求进行选择和优化。
广泛的应用领域：
原子力显微镜已被广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、医药等多个研究领域。它可以用于导体、半导体和绝缘体表面的高分辨成像，生物样品、有机膜的高分辨成像，表面化学反应研究，纳米加工与操纵，超高密度信息存储，分子间力和表面力研究，以及摩擦学和各种力学研究等。
综上所述，AFM原子力显微镜以其高分辨率成像、三维表面成像、非破坏性检测、广泛的环境适应性、多样的成像模式以及广泛的应用领域等**特点，在科学研究和工业应用中发挥着重要作用。