原子力显微镜在使用探针时的注意事项主要包括以下几点：
探针的选择与安装：
根据实验需求和样品特性选择合适的探针。探针通常由硅或碳纤维制成，具有不同的形状和尺寸，以满足不同解析度和测量目标的需求。
安装探针时，需轻轻地将探针夹安装在扫描器底部，切勿过度用力。在扫描管底部施加过大的力可能会损坏扫描器。
探针的维护与更换：
每次更换探针或样品时，需将扫描器抬高到安全位置，并避免在XY方向移动样品台，以防撞到扫描器。
熟练掌握探针的应用规则，以免操作不当影响探针寿命。
探针在使用后可能受到污染或损坏，需定期检查和更换，以确保实验结果的准确性。
操作过程中的注意事项：
在开始扫描之前，确保探针与样品之间的间距适当，并通过调整仪器参数（如电压和扫描速度）来获得Z佳成像效果。
在扫描过程中，通过操纵机械臂将探针移至待测区域，并使其与样品轻轻接触。避免过大的扫描力对样品产生压力，导致形貌变形。
根据具体需要选择合适的扫描模式，如接触式模式、非接触式模式或接近力模式。
环境要求：
保持实验室的整洁和安静，以降低外界震动和颗粒对观察结果的影响。
防止粉尘和霉菌的侵入，使用干燥剂和过滤器来控制湿度和空气质量。
保持温度稳定，以避免样品的漂移和扭曲。
数据记录与处理：
在完成扫描之后，及时关闭设备并保存数据。对于进一步分析或处理数据，可以使用专门软件进行操作。
正确地解读和分析数据是保证结果准确性的关键环节，需要对图像进行基本的数据处理，如去除噪声、平滑图像以提高清晰度。
综上所述，使用AFM原子力显微镜时，在探针的选择、安装、维护、更换以及操作过程中都需严格遵守注意事项，以确保实验结果的准确性和可靠性。