原子力显微镜是一种高精度的纳米级表征工具，能够对多种类型的样品进行表面形貌和物理性质的探测。然而，AFM原子力显微镜也存在一些限制，以下是原子力显微镜通常无法直接测试的样品类型及相关注意事项：
表面起伏过大的样品：由于原子力显微镜对样品表面的平整度有严格要求，如果样品表面存在较大的起伏，可能会导致部分表面无法被探测到，从而无法获得真实的形貌。因此，这类样品需要先进行表面平整化处理。
易损坏或易变形的样品：在接触式AFM原子力显微镜中，探针J端会与样品进行实际接触，这可能会损坏或改变一些脆弱或易变形的样品。对于这类样品，可能需要考虑使用非接触式或轻敲式原子力显微镜模式，以减少对样品的破坏。
特定环境下的样品：虽然AFM原子力显微镜可以在大气和液体环境下操作，但在某些J端环境下（如高温、高压、强磁场等），原子力显微镜的性能可能会受到影响，导致无法准确测试样品。
不兼容的基底：样品通常需要固定在基底上进行测试。如果样品与所选基底不兼容（如化学反应、溶解等），则无法进行测试。因此，在选择基底时需要考虑样品的特性和测试环境。
导电性差的样品：虽然AFM原子力显微镜可以检测导体、半导体和绝缘体表面，但一些导电性极差的样品可能在测试中产生噪声或干扰，影响成像质量。对于这类样品，可能需要采取特殊的制样方法或测试条件。
样品量不足：原子力显微镜测试需要一定的样品量以确保测试的准确性和可靠性。如果样品量不足（如液体样品少于3mL，固体粉末样品少于10mg等），则可能无法进行测试或结果不准确。
综上所述，AFM原子力显微镜在测试样品时具有一定的局限性。在准备测试样品时，需要充分了解样品的特性和测试需求，以确保测试的准确性和可靠性。