原子力显微镜可以用来观察硅片。原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是一种具有高分辨率的新型表面分析仪器，具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下（空气或溶液环境）对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测。
在观察硅片时，AFM原子力显微镜可以无损地测量硅片的表面形貌，包括其粗糙度、高度、厚度等信息。同时，原子力显微镜还可以对硅片进行三维模拟显示，使图像更适合人的直观视觉。这种无损、高分辨率的观测方式使得AFM原子力显微镜在半导体加工、材料科学等领域具有广泛的应用前景。
具体来说，原子力显微镜通过利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力来达到检测的目的。在扫描样品时，传感器会检测这些变化，从而获得作用力分布信息，进而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。这种技术不仅可以观察导体，还可以观察非导体，如硅片等。
因此，AFM原子力显微镜是一种非常适合观察硅片的工具，能够提供关于硅片表面的详细、准确的形貌和结构信息。