随着原子力显微镜的使用率越来越高，AFM原子力显微镜的很多问题也出来了，下面小编给大家分享几个常见问题以及解答方案：
1、为什么原子力显微镜测试样品颗粒或者表面粗糙度不能过大？
一般来说AFM原子力显微镜仪器测试的Z相范围是10um左右（有些仪器可能只有2um），因此样品表面起伏过大的样品可能会超出仪器扫描范围，另外粗糙度比较大的样品会导致针尖易磨钝或者受污染，对图像质量有很大影响，且磨损无法修复增加耗材成本。
2、原子力显微镜拍摄不到自己想要的效果，表面形貌或粗糙度与自己预期不符合？
AFM原子力显微镜拍摄也需要不断寻找合适的位置拍摄，同一样品不同拍摄部位表面形貌和粗糙度极有可能不一致，因为原子力显微镜成像范围较小，与拍摄样品表面是否均匀息息相关。
3、什么是相图？如何分析相图？
作为轻敲模式的一项重要的扩展技术，相位模式是通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源的相位角与微悬臂探针实际振动的相位角之差（即两者的相移）的变化来成像。引起该相移的因素很多，如样品的组分、硬度、粘弹性质，模量等。因此利用相位模式，可以在纳米尺度上获得样品表面局域性质的丰富信息。值得注意的是，相移模式作为轻敲模式一项重要的扩展技术，虽然很有用。但单单是分析相位模式得到的图像是没有意义的，B须和形貌图相结合，比较分析两个图像才能得到你需要的信息。简单来说，如果两种材料从原子力显微镜形貌上来说，对比度比较小，但又非常想说明这是在什么膜上长的另外一种，这个时候可以利用二维形貌图+相图来说明（前提是两种材料的物理特性较为不同，相图有明显对比信号才行）。
4、样品导电性不好能测AFM原子力显微镜吗？需要喷金处理吗？
原子力显微镜常规测试项目对样品的导电性没有要求，不导电的样品也是可以测试的，不需要做喷金处理，但是部分电学模块的测试，比如KPFM，是需要样品导电的，金颗粒是有一定尺寸的，喷金后可能会在形貌上有影响，因此一般不建议喷金处理。