Peak-Force Tuna和C-AFM测试之间的区别？
TUNA电流是探针要触及样品后的隧穿电流值，反应了样品的导电性，同时探针不会对样品造成损坏，可以说即可以表征样品本征形貌，也反应了样品的电学性能。C-AFM是直接接触样品，如果样品不够硬(比如有机物)，针尖会直接划破样品，同时采集电学信号。两种方式，电流大小会有差异，pktuna模式下，电流会小一些，相对比较的话，结果上是一样。
导电力显微镜一般表征样品多厚区域内的电流分布？
跟材料导电性能有关，导电材料的话几微米厚的可以，要是半导体材料的话可能需要是纳米级别的，1微米以下。
什么是PFM扫回字（也叫扫压电筹/写畴）？
这个比单纯的PFM难，要来回加偏转电压让压电材料发生极化反转，Z后再扫整体的图，一共要扫四次。加三次电压发生三次反转，Z后再扫一个大范围的才能出现这种图。
AFM接触模式，扫描范围越大，对针损坏越大吗？
扫描范围大的情况下考虑表面出现较高起伏颗粒会对探针造成磨损，另外扫描范围很大时，接近扫描Z大范围93微米时会对扫描管造成损伤。
什么时候才会考虑调节 I gain/P gain/setpoint这些参数?
setpoint与力有关，接触模式和峰值力轻敲模式下setpoint与力成正比关系，如果探针接触不到表面出现形貌差异较大时需要增大setpoint，轻敲模式力与setpoint成抛物线关系，I gain在每次成像时都需要调节，先慢慢增大至误差通道出现噪声震荡时回调I gain值至震荡消失为Z佳，调节好I gain后将P gain设置为I gain的2倍。
接触共振模式测粘性，振幅只与粘度有关吗？quality factor 只与粘性有关（正相关）吗？
是的，quality factor只与粘性正相关。
AFM可以像STM那样看到原子级尺度（纳米）的形貌吗？
可以，一般在液下测量原子相。
测量两相之间电势差采用KPFM模式还是PFM模式？
采用KPFM模式。
setpoin是加在压电陶瓷上的直流偏压吗？
setpoint只是一个设定值，并不是直接加在陶瓷片上的直流偏压。
AFM可以在平台上加偏压吗？如果能一般能加到多大？
可以加在样品台上，Z大可以加到10000 mV。
黏附力测试没有那么平滑怎么办？
可能是测试时外界噪声影响，建议测试时减小ramp频率，后期可以通过软件将曲线适当平滑处理。
样品盘找不到镜头已经降到Z底下了怎么办
考虑原子力显微镜聚焦没调节好，一般在倒影相调好样品虚像后再切换到sample相继续往下聚焦至样品实像。
片层两边黑是假象，怎么去掉？
片层两边黑是由于起伏对比度的差异，可以采用plane fit一阶拉平的方式，注意框选同一个面上的点。