原子力显微镜可以通过悬臂扫描特定区域来完成样品的表面形貌成像，激光束被用于检测悬臂靠近表面。一端固定一对弱力敏感的微悬臂梁，另一端的微小尖的一端靠近样品，然后与样品相互作用，作用力使微悬臂梁变形或改变其运动状态。在扫描样品时，这些变化可以通过传感器检测到，并可以获得力分布的信息，从而可以获得纳米级分辨率的表面形貌和表面粗糙度信息。
AFM原子力显微镜特点：
1、原子力显微镜利用悬臂末端的尖针扫描样品表面，悬臂的机械设计结构带来精确的悬臂定位。
2、简便的悬臂安装：通常的悬臂很小，很难操作。内置传感器的“自检测悬臂”比普通AFM原子力显微镜探头大得多，便于携带和安装。
3、调整激光点自探测模式的探针需要调整激光点的位置，操作复杂，使用自探测法的“自检测悬臂”不需要调整激光点。
4、良好的扩展功能通过激光检测，可以扩展各种可选功能。此外，激光检测模式只能通过插拔一根电缆来切换。
5、精密激光和探针定位装置，简单方便地更换探针和调整光斑。
6、金属屏蔽隔音盒，4倍目标光学定位，无对焦，实时观察和定位探头样品扫描区域。
原子力显微镜注意点：
1、计算机上的测量软件精确地互补了工作台与光学尺之间的误差。请不要改变，否则会产生错误的测量结果。
2、所有的调节螺丝和紧固螺丝都是固定的，不要随意拆卸。
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