1.样品导电性不好，需要喷金吗?
答:原子力显微镜对样品表面的导电性没有要求，可以测导电的和不导电的。
2.原子力显微镜可以分析材料的亲疏水性吗?如何判断?
答:可以分析，需要用液下模式。
3.AFM和MFM都可以出形貌图，这两种有什么区别?以哪个为准?
答;AFM原子力显微镜出的图是形貌图，MFM出的图是抬起模式相图也就是磁畴分布图，在分析相图时需要对比形息图，分析两者之间的差异从而得到磁分布的信息。
4.样品尺寸较大，微米级的可以测吗?检测有必要吗?
答:样品尺寸横向大小微米级的可以使用AFM测试，根据你想得到的材料信息来判断有没有检测的心要，如果微米级起伏根据第4条回答来判断
5.原子力显微镜力曲线中位移-力曲线和距离-力曲线如何转化?转化讨程中需要注意哪些细节?
答:F-Z转换成F-D曲线可以在分析软件中修改，将displaymode改为Forcevssep就可以直接转换。
6.样品是粉未，疏松度疏松，测量时，会不会因为粉未疏松，测不了啊?
答:一般粉末样品需要分散到硅片或云母表面测试。
7.测量时，探针会不会将表面形貌破坏呢?
答:样品较软时采用峰值力轻敲模式扫描，将力设罟小一些就不会对表面形貌造成破坏。
8.磁学MFM测量探针的镀层是Co的话，Co易氧化，如何保存?答:一般是Co-Cr的镀层，不会被氧化，没有特殊保存要求。10.AFM扫描过程中，力曲线反应的是什么物理图像?
答:力曲线反应的是样品与探针之间的作用力，
9.MESP针*大磁场可以加到多大?
答:MESP的探针矫顽力在400Oe，测试的样品磁性较强时建议使用高矫顽力的探针或者低磁矩探针，
10.有镀层的针会不会更粗一些?
答:不会，一般探针针尖在2nm，镀层可以镀的厚度很薄，可以忽略不算。
11.AFM图上出现波纹状结构是什么原因呢?
答:AFM图上出现波纹考虑是激光干涉或机械振动，可以根据条纹的数量确定是高频还是低频噪声，激光干涉的话需要重新调节激光的位置，机械振动的话检查气浮台和真空吸附开关有没有打开。
12.电化学AFM原子力显微镜是哪种?
答:将接触式的AFM原子力显微镜用于电解质溶液研究电极的表面形貌，其力的作用原理与大气中的原子力显微镜相同。