原子力显微镜是一种分析仪器，可用于研究包括绝缘体在内的固体材料的表面结构。
原理介绍：
afm原子力显微镜的工作方式按针尖与样品间受力的形式分类。原子力显微镜利用微悬臂梁来感应和放大悬臂梁的末端与被测样品原子之间的关系。达到检测的目的（在扫描样品时，利用传感器检测这些变化，可以得到受力分布信息，从而获得纳米级分辨率的表面形貌结构信息和表面粗糙度信息）。由于原子力显微镜可以同时观察导体和非导体，弥补了扫描随道显微镜的一些不足。
优点：
与扫描电子显微镜相比，原子力显微镜有很多优点。
①与电子显微镜只能提供二维图像不同，AFM原子力显微镜提供真实的三维表面图像。
②同时，原子力显微镜不需要对样品进行任何特殊处理，如镀铜或镀碳，否则会对样品造成损坏。
③电子显微镜需要在高真空条件下工作。AFM原子力显微镜在常压甚至液体环境下都能很好地工作。这可用于研究生物大分子甚至活的生物组织。与扫描随道显微镜STM相比，原子力显微镜可以观察非导电样品，因此具有更广泛的适用性。目前，广泛应用于科研和工业的扫描力显微镜是以AFM原子力显微镜为基础的。
缺点：
与扫描电子显微镜（SEM）相比，原子力显微镜的缺点是成像范围太小，速度慢，头部的影响太大。
区别：
AFM原子力显微镜是力基显微镜，SEM和TEM是电子显微镜，原理不同；原子力显微镜zui大的特点是样品无损，广泛应用于生物系统。SEM和TEM被电子轰击。，广泛应用于材料，AFM依赖于探针和表面的功能。
AFM原子力显微镜适用于测量基板上样品的表面起伏和形貌。
SEM是观察样品在基材上的表面形貌。
TEM观察样品结构和内部精细结构，但需要进行测试。样品相对较薄以允许电子通过，因此基板样品不起作用。
原子力显微镜AFM检测项目：
高度图、相图、表面粗糙度、三维立体图等
应用范围：
afm原子力显微镜广泛应用于表面分析的各个领域，通过对地表地形的分析、归纳和总结，获得更深层次的信息。可用于研究金属、半导体和非金属材料的表面形貌、表面重构、摩擦等，获得相界、分形结构、侧向力等信息的空间三维图像。