原子力显微镜是利用检测样品表面与细微的探针之间的相互作用力（原子力）测出表面的形貌。AFM原子力显微镜可以检测很多样品，提供表面研究和生产控制或流程发展的数据，这些都是常规扫描型表面粗糙度仪及电子显微镜所不能提供的。本文将会介绍关于它的特点以及应用实例。
原子力显微镜的特点：
1．高分辨力能力远远超过扫描电子显微镜（SEM），以及光学粗糙度仪。样品表面的三维数据满足了研究、生产、质量检验越来越微观化的要求。
2．非破坏性，探针与样品表面相互作用力为10－8N以下，远比以往触针式粗糙度仪压力小，因此不会损伤样品，也不存在扫描电子显微镜的电子束损伤问题。另外扫描电子显微镜要求对不导电的样品进行镀膜处理，而AFM原子力显微镜则不需要。
3．应用范围广，可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整度评价、VCD涂层评价、定向薄膜的摩擦处理过程的评价、缺陷分析等。
4．软件处理功能强，其三维图象显示其大小、视角、显示色、光泽可以自由设定。并可选用网络、等高线、线条显示。图象处理的宏管理，断面的形状与粗糙度解析，形貌解析等多种功能。
原子力显微镜应用案例：
1．应用于纸张质量检验。
2．应用于陶瓷膜表面形貌分析。
3．评定材料纳米尺度表面形貌特征。
以上即是小编为你整理的关于原子力显微镜特点及应用实例介绍，希望这边文章对你有所帮助。