今天本原纳米一起给大家带来的是关于静电力显微镜的工作原理，希望能给大家带来帮助，那么接下来一起看下吧。
静电力显微镜（英文名：Electrostatic Force Microscopy,简称EFM）是一种利用测量探针和样品的静电相互作用，来表征样品表面静电势能，电荷分布以及电荷输运的扫描探针显微镜。
静电力显微镜的工作原理和原子力显微镜差不多。关键部分都是由悬臂梁组成的探针。但是和原子力显微镜测量探针与样品的范德华力不一样，静电力显微镜是通过测量两者的库仑相互作用来实现样品成像。
静电力显微镜的工作原理：
工作的时候，探针和样品之间被加上工作电压，悬臂梁探针受静电力的作用，在样品表面震荡，但是不接触样品表面。范德华力随着原子间距离r成1/r6衰减，因此原子力显微镜一定要确保探针和样品表面几乎接触。相比之下，随1/r2衰减的库仑力较为长程，一般探针和样品表面的工作距离为一百纳米。假设样品和探针之间的电压为ΔV，等效电容为C，那么系统的总能量为：
用z来代表样品表面的法线方向，那么探针所受的静电力可以表示为：
和原子力显微镜一样，静电力显微镜也能够在液体环境中工作。
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