AFM原子力显微镜经典案例分享（二）：纳米层状材料厚度表征
自二维材料T次提出至今，有大量的可用数据和高性能的器件演示证明了二维材料以其独特的结构特征和物理化学性质使其在电子学、光电子学、催化、储能、太阳能电池、生物医学、传感器、环境等方面具有巨大的潜在应用前景。
为了研究二维材料的形貌和厚度对其性能的影响，使用具有原子级分辨率的原子力显微镜能够准确测量二维材料片层形貌大小及厚度。除表征片层厚度，AFM原子力显微镜还可以无损表征台阶或沟槽等需要测量高纵比结构的宽度和深度。
送样须知
块体、薄膜等待测样品尺寸：5mm-210mm(可裁剪、破片的样品尺寸可超过210mm)，高度：小于15mm。测试面需保持清洁无污染，不稳定的样品需抽真空后寄样防止样品变质，特殊样品可寄样前沟通确认。
粉末、液体样品需提供制样条件，除超纯水、乙醇外其它分散剂需送样时自备，基底可选择云母片和疏水硅片，特殊制样可寄样前提前沟通确认。
测试台阶样品台阶高度、沟槽深度不超过10微米。