原子力显微镜是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。
当使用AFM原子力显微镜对样品成像时，JIAN端与样品接触，样品沿x-y网格进行光栅扫描。常见的是，在扫描过程中使用电子反馈回路来保持探针样品力常数。该反馈回路以悬臂偏转为输入，其输出控制探针支架和样品支架之间沿z轴的距离。只要*端与样品保持接触，并且样品在x-y平面上扫描，样品的高度变化将改变悬臂的偏转。然后，反馈调节探头支架的高度，使偏转恢复到用户定义的值(设定点)。适当调整的反馈回路在扫描运动期间连续调整支架-样品分离，使得偏转保持近似恒定。在这种情况下，反馈输出等于样品表面形貌，误差很小。
提供的原子力显微镜流程如下：
1.记录用户定义的多个扫描位置
2.在第Y个扫描位置成像
3.提升悬臂
4.将电动样品台移至下一个用户定义坐标
5.探针接近
6.重复扫描
记录多个扫描位置十分简单，您可以输入样品-样品台坐标或使用两个参考点校正样品位置。该自动化功能大大减少您在扫描过程中需要的工作，极大提高了生产力。