原子力显微镜探针与样品表面原子之间存在多种作用力,其中包括范德瓦耳斯力、排斥力、静电力、形变力、磁力、化学作用力等。原子力显微镜使用时,会消除出来范德瓦耳斯力以及排斥力之外作用力的影响;再加上,除了以上两种力之外,其他力本身也相对较小。
因此,AFM原子力显微镜探测到的原子力主要由范德瓦尔斯力以及排斥力组成。其中范德瓦耳斯力为吸引力,排斥力的本质为原子电子云之间的相互作用,其本质为一种量子效应。
原子力显微镜探针与样品表面原子之间存在多种作用力,其中包括范德瓦耳斯力、排斥力、静电力、形变力、磁力、化学作用力等。原子力显微镜使用时,会消除出来范德瓦耳斯力以及排斥力之外作用力的影响;再加上,除了以上两种力之外,其他力本身也相对较小。
因此,AFM原子力显微镜探测到的原子力主要由范德瓦尔斯力以及排斥力组成。其中范德瓦耳斯力为吸引力,排斥力的本质为原子电子云之间的相互作用,其本质为一种量子效应。