影响AFM原子力显微镜工作的力介绍：现在让我们了解一下操作过程中作用在悬臂和尖D上的两个*重要的力。
范德华力/伦敦色散力： 将两个或多个电中性体相互吸引的弱分子间电力称为范德华力或伦敦色散力。
力与物体之间的距离成反比。在这种情况下，观察的两个物体是样品和悬臂梁。
静电力：这些力由两个或多个带电体相互施加。对于带相同电荷的物体，该力是排斥力；对于带相反电荷的物体，该力是吸引力。
当悬臂梁的尖D远离物体表面时，范德华引力作用于其上，将其拉近。发生这种情况时，悬臂会向样品表面弯曲。
尖D垂直接近表面。一旦足够接近，实际上可以观察到静电排斥力的大小往往会变得更大并占主导地位。之前向表面弯曲的悬臂现在被推离表面。
这种排斥也是由于尖D无法穿透样品造成的。这种偏转的变化可以作为发现一些物理特性的基础，例如观察到的样品的刚性。
因此，除了扫描之外，原子力显微镜还可以用于测量样品作用在悬臂尖D上的力。