AFM全称Atomic Force Microscope，也就是原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一款具有原子级高分辨的新型仪器，能够在大气还有液体环境下对各种材料以及样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵；目前已经广泛应用于半导体领域、纳米功能材料领域、生物领域、化工领域、食品领域、医药研究领域以及科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域当中，成为纳米科学研究的基本工具。
AFM原子力显微镜是由G.Binning在STM的基础上于一九八六年发明的表面观测仪器。
AFM=Atomic Force Microscope（原子力显微镜）。原子力显微镜和扫描隧道显微镜相比，因此可以观测非导电样品，所以具有更为广泛的适用性。当前在科学研究还有工业界广泛运用的扫描力显微镜（Scanning Force Microscope），它的基础就是原子力显微镜。
AFM原子力显微镜的原理：
当原子间距离减小到一定程度之后，原子间的作用力会快速上升。所以，由显微探针受力的大小就能够直接换算出样品表面的高度，随之获取样品表面形貌的信息。