原子力显微镜利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。
AFM原子力显微镜的使用流程主要包括以下几个步骤：
1. 准备样品：将待观察的物质样品加工成符合要求的形状和尺寸，通常需要将其尺寸缩小到纳米或亚纳米级别，以便于观察和分析。
2. 安装样品：将样品装在样品台上，保证样品表面尽可能平整，同时保持样品与显微镜头的间距恰当。
3. 调整扫描参数：设置扫描参数，如扫描速度、扫描范围、扫描方向等，根据需要选择合适的扫描模式。
4. 进行扫描：启动原子力显微镜的扫描功能，进行扫描观测。
5. 分析数据：将获取的数据进行处理、分析和解读，可使用计算机软件进行处理。
6. 结果表达与呈现：根据需要将分析结果用图表、表格等形式进行表达和展示。
7. 清理设备：清理和保养设备，确保设备的正常功能和使用寿命。
需要注意的是，在使用AFM原子力显微镜进行观测时，需要尽可能避免外界干扰和样品表面的损坏。同时，操作人员也需要具备一定的专业知识和技能，确保设备的正常运行和观测结果的准确性。