原子力显微镜它是以扫描隧道显微镜的基本原理发展起来的扫描探针显微镜。afm原子力显微镜的出现为纳米科技的发展起到了极大的推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜它是在样品表面利用一种小探针进行扫描，从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。使用afm原子力显微镜扫描样品可能获得各种类型样品表面的状态信息。相对于一些常规的显微镜，原子力显微镜具有许多优点，它是在大气条件下，使用高倍率观察样品的表面，几乎可用于所有的样品（对样品表面的光洁度是有一定的要求），而不用进行其他的制样处理，就能够获得样品表面的三维形貌图像。并且还可以对扫描得到的三维形貌的图像进行一个粗糙度的计算，厚度，步宽，方框图以及颗粒度分析。
AFM原子力显微镜能够检测很多种样品，提供表面的研究，生产控制还有流程发展的一些数据，这些是很多常规的扫描型表面粗糙度仪器或者电子显微镜所提供不了的。
主要应用：
1、用于检验纸张的质量。
2、分析陶瓷膜表面的形貌。
3、评定材料纳米尺度表面的形貌特征。
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