使用原子力显微镜（AFM）进行观测时，可以采用不同的模式，包括接触模式、非接触模式和轻敲模式。以下是使用原子力显微镜的技巧：
接触模式：这是AFM*直接的成像模式。在整个扫描成像过程之中，探针针尖始终与样品表面保持接触，相互作用力是排斥力。这种模式通常用于对表面形貌进行高分辨率成像。
非接触模式：在这种模式下，悬臂在距离试样表面上方5～10nm的距离处振荡。这种模式适用于研究较软或有弹性的样品，因为针尖或样品表面不会有钝化效应。然而，由于非接触模式的信号较小，需要更灵敏的装置，而且分辨率可能会低于接触模式和轻敲模式。
轻敲模式：轻敲模式介于接触模式和非接触模式之间，是一个杂化的概念。悬臂在试样表面上方以其共振频率振荡，针尖仅仅是周期性地短暂地接触/敲击样品表面。这种模式适用于对柔软的样品进行成像，并且可以减少对样品的破坏。由于针尖与样品之间的接触时间非常短暂，相互作用力很小，通常为1皮牛顿(pN)～1纳牛顿(nN)，因此剪切力引起的分辨率的降低和对样品的破坏几乎消失。
此外，使用原子力显微镜时还需要注意以下几点：
选择合适的探针：根据样品和所需的分辨率选择合适的探针，探针的刚性和形状会影响成像质量和分辨率。
控制扫描速度：在扫描过程中，应控制扫描速度以获得很好的成像效果。较快的扫描速度可能会导致图像失真或变形。
调整反馈系统：反馈系统用于控制悬臂的振幅恒定，从而获得准确的形貌信息。需要根据样品的表面形貌和特性调整反馈系统的参数。
保持稳定的操作环境：使用原子力显微镜时需要保持稳定的操作环境，包括温度、湿度和空气流动等。这些因素会影响悬臂的振幅和稳定性，从而影响成像效果。
操作经验：熟练掌握原子力显微镜的操作经验对于获得高质量的图像至关重要。操作人员需要了解AFM的基本原理、探针和样品的特性以及如何调整参数以获得很好的成像效果。
总之，使用原子力显微镜需要一定的技巧和经验积累。通过不断实践和总结经验，可以获得高质量的图像和准确的信息。