AFM原子力显微镜（Atomic Force Microscope）是一种高精度的纳米级显微镜，广泛应用于材料科学、生物学、半导体、纳米科技等领域。它利用原子间作用力探测样品表面的微小高度变化，能够实现高分辨率的成像，并提供有关材料结构、力学性质和表面特征的详细信息。下面我们将探讨一下AFM原子力显微镜能够测量的对象。
AFM原子力显微镜可以测量材料的表面形貌。通过探针和样品之间的引力或斥力来调整探针的位置，AFM可以实时测量样品表面高度的变化情况。由于其高分辨率和灵敏度，可以观察到纳米级的细微结构，揭示材料表面的微观形貌。
AFM原子力显微镜可以测量材料的机械性能。在测量过程中，探针对样品表面施加微小的力量，通过检测探针的弯曲和振动来推断材料的硬度、弹性模量和粘弹性等力学参数。这对于研究材料加工、力学行为和材料工程具有重要意义。
AFM原子力显微镜还可以测量材料的磁性和电学性质。在一些特殊的AFM模式中，可以通过探针的磁性或电导性来探测样品表面的磁场或电场分布。这对于研究磁性材料、器件和纳米电子学等领域具有重要意义。
还有一个重要的应用是在生物学领域。AFM原子力显微镜可以测量生物样品的细胞形态、膜的力学特性和生物分子的相互作用力。这为研究细胞力学、生物膜结构和生物分子相互作用的机制提供了有力的工具。
AFM原子力显微镜是一种功能强大的仪器，可应用于多个领域的研究和应用。它可以测量材料的表面形貌、机械性能、磁性和电学性质，以及生物样品的细胞形态和相互作用力。通过用途的广泛性和高精度的测量，AFM原子力显微镜为科学研究和技术创新提供了重要的帮助。