想测量二维材料的厚度，使用AFM原子力显微镜是可行的。AFM原子力显微镜是一种高分辨率的成像表征工具，它能够轻易的测量原子台阶厚度以及原子晶格结构来表征二维材料。
以下是使用AFM原子力显微镜测量二维材料厚度的一般步骤：
1、AFM原子力显微镜仪器开机：确认电源与控制机箱连接线无误后，依次打开计算机电源、机箱低压电源、高压电源、激光器电源。
2、安装样品以及探针进给：安装好样品后将固定螺栓微微旋紧，然后将样品与探针逼近到进入原子力状态。仪器提供粗调和细调两种进给机构，每次测试前先将细调旋钮反向退到底，用粗调机构进样至离探针约一定距离。
3、选择合适的实验模式和参数：根据实验需求和二维材料的特性，选择合适的实验模式和参数。例如，选择接触模式、非接触模式或轻敲模式等。
4、进行扫描和测量：启动扫描程序，让探针在二维材料表面进行扫描。在扫描过程中，原子力显微镜会记录下探针与样品表面之间的相互作用力，从而得到样品表面的形貌和厚度信息。
5、数据处理和分析：使用相关的软件对扫描得到的数据进行处理和分析，提取出二维材料的厚度信息。根据需要进行数据的统计、图形化显示等操作。
需要注意的是，使用AFM原子力显微镜测量二维材料厚度时，可能会受到基底粗糙度和样品制备方法的影响。为了获得更可靠的测量结果，可以采用原子级平整衬底（如云母和石墨）来制备二维材料。此外，在进行实验前，需要对仪器进行校准和调试，以确保测量结果的准确性和可靠性。
以上步骤仅供参考，具体使用步骤可能因仪器型号和实验需求而有所不同。因此，在使用AFM原子力显微镜测量二维材料厚度时，建议参考仪器说明书和实验指导手册进行操作。