原子力显微镜（AFM）的技术标准主要包括以下几个方面：
分辨率：这是衡量AFM性能的关键指标，包括侧向分辨率和垂直分辨率。侧向分辨率主要受到采集图像的步宽和针尖形状的影响，而垂直分辨率则主要取决于针尖刚性和系统噪声。
成像模式：AFM支持多种成像模式，如ScanAsyt（全自动扫描模式）、Contact AFM（接触模式）、Tapping mode（轻敲模式）以及LiftMode（抬高模式）。这些模式的选择应根据具体的实验需求和应用来确定。
扫描范围：X-Y向扫描范围通常会在技术指标中给出，例如12μm×12μm或90μm×90μm。这个范围决定了AFM能够扫描的样品尺寸。
噪声水平：噪声水平是衡量AFM性能的一个重要参数，通常以RMS（均方根）值表示。低噪声水平有助于提高成像质量。
控制器和放大器：一些**的AFM可能会配备全数字锁相放大器，提供定量相位成像功能，并可以直接实现纵向和横向压电响应模式。
数据获取和处理能力：例如，每条扫描线可获得的数据点数量，以及是否具备数字Q控制功能来提高信噪比。
扫描器：AFM可能配备大扫描器和小扫描器，用于在不同的尺度上扫描样品。
检测器：例如，生物性原子力显微镜可能会使用红外超发光二极管（SLD）进行挠度检测。
需要注意的是，不同的AFM可能会有不同的技术标准和配置，用户在选择和使用时应根据具体的应用需求来确定*合适的参数和模式。