原子力显微镜在高分子表征中的应用非常广泛。AFM原子力显微镜是一种在纳米尺度上表征材料表面形貌结构、性能和演变的有效工具，特别适用于高分子科学领域。它可以表征高分子从单分子链到聚集态结构的形貌与性能，同时能够原位研究外场作用下高分子结晶与熔融、嵌段高分子自组装和共混高分子相分离等过程。
在高分子表征中，原子力显微镜的样品制备、扫描参数优化和图像数据处理都是关键要点。利用AFM原子力显微镜，可以高分辨率地表征高分子材料的表面形貌，并分析与作用力相应的表面性质。例如，摩擦力显微镜可用于研究高分子材料的摩擦系数，磁力显微镜可用于研究样品表面的磁畴分布，电力显微镜则可以分析样品表面电势、薄膜的介电常数和沉积电荷等。
此外，原子力显微镜在高分子表征中还可以进一步采用基于扫描探针刻蚀技术的机械刻蚀、电致刻蚀和热致刻蚀等方法，构筑高分子功能化微图案。这些功能化的微图案在材料科学、生物医学等领域具有广泛的应用前景。
综上所述，AFM原子力显微镜在高分子表征中的应用非常广泛，不**于形貌和性能的表征，还包括外场作用下的过程研究和功能化微图案的构筑等方面。它为高分子科学领域的研究提供了有力的工具和方法。