原子力显微镜对样品的具体要求如下：
样品表面：必须干净、平整和均匀，任何污染物或不均匀的表面都可能影响测试的精确性和准确性。同时，样品表面起伏不应超过一定范围，例如15μm。对于薄膜样品，要求上下表面平整，高低起伏小于1μm。
样品尺寸和高度：一般要求样品大小不超过1cm，高度也应控制在1cm以内。测试薄膜厚度应控制在15μm以下，尺寸不大于2*2cm。然而，也有AFM原子力显微镜设备的测试样品尺寸可达直径210mm，厚度15mm。具体尺寸要求可能会因设备和测试需求的不同而有所变化。
样品材质：可以是有机固体、聚合物以及生物大分子等。对于有机物样品，应具有足够的疏水性，以保证平整的表面并防止吸附液污染样品。对于无机物，有时需要在表面上涂覆一层非晶膜，以改善表面的光滑度和疏水性。
样品环境：样品必须保持在干燥的环境中，如果样品表面有水分或其他液体残留物，可能会导致测试结果不准确。液体样品应配好胶体溶液，保证样品均匀分散，要求无沉积，溶液澄清透明。
导电性：对于C-AFM和PFM测试，样品需要具有导电性。
特定样品处理：对于某些特殊样品，如纳米线、纳米管等，需要进行特殊处理以保证成像质量。
请注意，这些要求可能因不同的原子力显微镜设备和应用场景而有所差异。在进行AFM原子力显微镜测试前，建议仔细阅读设备说明书，并根据具体测试需求调整样品制备和处理方法。同时，与具有原子力显微镜操作经验的专家或技术支持团队进行沟通也是非常重要的，以确保测试的准确性和有效性。