AFM原子力显微镜的测试范围广泛，包括表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整度评价、VCD涂层评价、定向薄膜的摩擦处理过程的评价、缺陷分析等。其纳米级的分辨能力使其成为研究纳米科技和材料分析的重要工具。
具体而言，原子力显微镜可以通过不同的测量模式来分析材料的其他特性，如样品的静电力、磁力或者弹力。在材料分析中，它可以检测纤维、粉末、溶液、薄膜、纳米片、生物蛋白等样品，进行粗糙度、表面形貌、厚度、相图、弹性模量等测量。此外，原子力显微镜还可以进行多种模式的成像，如摩擦力图像、定量相位图像等，并可以对表面局域电场力、磁场力、表面电势以及导电性、电场力及磁场力图像进行测量。
测试时，原子力显微镜通过探测微细针尖和样品原子团之间相互作用力的变化来检测样品表面的高低起伏。其主要特点包括具有接触模式、轻敲模式、相位成像模式、抬起模式、暗抬高模式等多种扫描方式，以及表面形貌扫描、静电力显微镜、导电原子力显微镜、磁力显微镜、横向力/摩擦力显微镜、力曲线、纳米压印等多种功能模块。
请注意，具体的测试范围可能会因设备型号、生产厂家以及技术规格的不同而有所差异。因此，在选择和使用原子力显微镜时，建议参考设备的技术手册和厂家提供的信息，以确保测试结果的准确性和可靠性。