与传统的光学显微镜和电子显微镜相比，原子力显微镜的分辨率主要受到以下因素的影响：
步宽因素：原子力显微镜图像由许多点组成，扫描器沿着特定路线进行扫描，计算机以一定的步宽取数据点。扫描图像的步宽直接决定了侧向分辨率。当扫描样品尺寸较大时，AFM原子力显微镜的侧向分辨率主要由采集图像的步宽决定。
针尖因素：原子力显微镜成像实际上是针尖形状与表面形貌相互作用的结果。针尖的形状对侧向分辨率有关键影响。具体表现在针尖的曲率半径和侧面角。曲率半径决定了Z高侧向分辨率，而侧面角则影响Z高表面比率特征的探测能力。曲率半径越小，AFM原子力显微镜越能分辨精细结构。
因此，在使用原子力显微镜时，为了获得更高的分辨率，需要选择合适的步宽和针尖，以适应不同的样品和实验需求。同时，通过优化实验条件和操作方法，也可以进一步提高原子力显微镜的分辨率。
请注意，光学显微镜、电子显微镜和AFM原子力显微镜各自有其独特的优点和适用范围。选择使用哪种显微镜取决于研究目的、样品特性以及所需的分辨率和成像深度。在实际应用中，研究者需要根据具体情况选择合适的显微镜技术。