在使用原子力显微镜的探针时，需要注意以下几点：
探针选择与处理：根据测试的目的、研究的问题及样品的形态、尺寸等特点选择合适的探针。探针是直接接触样品表面的部分，因此对其干净度和质量要求很高。在使用之前，应确保探针表面没有杂质和污染物，常见的处理方法包括使用超声波清洗、离子交换法等。同时，存放探针时，要注意避免其与空气、尘埃等接触，可以使用特殊的存放盒或容器。
探针夹持与校准：在使用前，应仔细检查探针是否损坏、畸变或过度使用，若有异常应立即更换探针，并进行对应的探针校准。安装探针时，要轻轻地将探针夹安装在扫描器底部，切勿过度用力，以免损坏扫描器。
样品制备：样品的制备对于AFM原子力显微镜测试的准确性和有效性至关重要。样品表面应干净、平整和均匀，无污染物或不均匀表面。样品B须保持干燥，避免水分或其他液体残留物对测试结果的影响。对于有机物样品，应具有足够的疏水性。此外，样品的大小和高度也需要控制在一定范围内。
显微镜参数调节：不同的样品材料和形态需要不同的参数设置，因此在实际使用中需要根据样品的特点进行调整。常见的参数包括扫描速度、扫描范围、扫描模式等，合理选择这些参数可以提高测量的准确性和效率。
环境条件：在使用原子力显微镜时，需要避免重金属或电磁干扰，并保持实验室的适宜环境，如温度、湿度、灰尘及噪音等，以维持实验的稳定性和可重复性。
总之，在使用AFM原子力显微镜的探针时，应综合考虑探针的选择、处理、夹持与校准，样品的制备，原子力显微镜参数的调节以及环境条件等多个方面，以确保测试的准确性和有效性。