AFM原子力显微镜的测试过程介绍

 新闻资讯     |      2024-05-27 11:21:44

原子力显微镜的测试过程可以详细分为以下几个步骤,以下是按照清晰的结构和必要的信息进行的介绍:

准备工作:

确定试样的种类和尺寸,根据试样的特性选择合适的扫描模式(如接触模式、非接触模式、敲击模式等)、扫描速率和探针。

准备试样,确保试样平整、干燥,并且表面无明显污染。对于不同类型的试样(如生物样品、无机材料或金属样品),可能需要采用不同的制样方法。

原子力显微镜.jpg

系统开启与校准:

打开电源,并按照厂家提供的操作手册启动电脑上的AFM原子力显微镜软件。

校准仪器,确保仪器处于水平状态,使用气体水平仪校准水平,并调整扫描单元位置,保证扫描单元离试样距离合适。

检查并校准原子力显微镜探针和光学显微镜对焦,确保获得清晰的图像和准确的测量数据。

试样安装:

将试样安装在AFM原子力显微镜试样台上,确保试样与试样台之间接触良好,无气泡或杂质。

扫描参数设置:

根据试样的特性、扫描要求等因素,设置原子力显微镜扫描参数。这包括选择扫描模式、设置扫描速率、扫描范围、扫描线数等。

根据试样的硬度和粗糙度,选择合适的探针。例如,对于纳米颗粒成像,研究人员通常使用半径小于10 nm的针头。

扫描操作:

在AFM原子力显微镜软件上点击开始扫描按钮,开始扫描操作。

操作软件上的控制面板,调整探针的位置和垂直力,确保探针与样品表面保持适当的接触力。

根据扫描要求,在试样上选择合适的扫描范围进行扫描。

实时观察显示的图像,适时调整扫描参数以获得Z佳的图像质量和数据准确性。

获得扫描结果:

结束扫描后,保存扫描结果图片和数据。可以将图像保存为位图格式或矢量图格式,以便后续分析和处理。

对扫描图像进行分析和处理,例如计算表面粗糙度、测量高度差等。这些分析有助于更深入地了解试样的表面结构和性质。

仪器关闭:

关闭扫描单元和激光仪器,并将扫描头移到安全位置。

关闭电源,关闭软件,关闭电脑。

需要注意的是,在操作原子力显微镜时,要特别注意探针的安全使用和样品的保护。此外,根据具体设备的不同,操作步骤可能会有所差异,因此务必按照操作手册进行操作。

通过以上步骤的介绍,可以清晰地了解AFM原子力显微镜的测试过程及其中的关键步骤和注意事项。