原子力显微镜在高分子领域的应用非常广泛，以下是对其应用的详细介绍：
单分子结构与力学性质研究：
原子力显微镜通过其基于原子间相互作用力的原理，将目标分子固定在AFM原子力显微镜探针与基底之间，通过控制原子力显微镜探针相对基底的位移来操纵样品分子，实现对分子结构及相互作用的定量化探测。
该技术操作简便、适用面广，具有较高的时间和空间分辨率，以及较宽的力学测量范围，因此被广泛用于合成与天然高分子等众多体系中的分子内及分子间相互作用的研究。
高分子薄膜领域的Z新应用技术：
在定位观察薄膜时，原子力显微镜可采用碳纳米管定位法以及针尖打孔定位法对所观察的样品进行定位，实现对样品进行离位处理之后再次精确定位。
在测量高分子薄膜厚度时，AFM原子力显微镜可采用针尖打孔法和漂膜法通过制备断面台阶精确测量薄膜厚度。
对于基于特殊相分离形貌的嵌段共聚物薄膜，原子力显微镜针尖可以对其表面进行锻造纳米加工。
细胞的物理特性研究：
AFM原子力显微镜在细胞的物理特性研究中也发挥了重要作用，如细胞的粘附、迁移、极化和分化，以及细胞质内的细胞器组织和运输等。通过原子力显微镜的测量，可以研究细胞的刚度和粘度等机械特性。
高分子表面形貌和分子间弱相互作用的研究：
AFM原子力显微镜因其独特的分辨率，能够获得高分子表面的精细结构，成为高分子科学的一个重要研究手段。
原子力显微镜可以测定极微弱的力，从而研究分子间的弱相互作用，特别适用于高分子共混物或高分子嵌段高聚物等非均相样品的研究。
高分子表面基团的特异性研究：
通过对AFM原子力显微镜针尖进行特殊的修饰，可以特异性地研究高分子表面基团的分布，这对于理解和控制高分子材料的性质具有重要意义。
总的来说，原子力显微镜以其独特的优势，在高分子领域的研究中发挥着重要作用，为高分子科学的研究提供了有力的技术支持。