原子力显微镜是一种高分辨率表面形貌和物理性质测量技术，能够直接观测纳米级别的表面形态、粗糙度、力学性质等。在进行AFM原子力显微镜测试前，需要对样品进行制备，以保证测试的准确性和有效性。
一、样品制备要求：
样品表面应该是干净、平整和均匀的。任何污染物或不均匀的表面会影响原子力显微镜测试的精确性和准确性。
样品必须保持在干燥的环境中。如果样品表面有水分或其他液体残留物，则可能会导致测试结果不准确，因为液体可能会在扫描过程中干扰样品表面的结构。
样品尺寸应该足够小，以确保在测试过程中样品表面的任何变化都可以被检测到。如果样品过大，则可能会导致一些细节被忽略或掩盖。
二、选择合适的样品：
样品应该具有相应的硬度和强度。如果样品太软或太脆，则在测试过程中可能会发生形变或破裂，从而导致测试结果不准确。
样品表面应该具有一定的反射性和导电性。这可以确保样品表面的形态和结构可以准确地被探测到。
样品的形态和结构应该与所需测试的目的相匹配。例如，如果要测试材料的表面粗糙度，则需要选择具有所需粗糙度的样品。
三、其他注意事项：
在测试之前，应该进行预热和冷却等样品处理，以确保样品处于稳定状态。
在测试之前，应该对扫描参数进行仔细调整和测试，以确保扫描的准确性和精确性。
在测试过程中，应该避免任何外力干扰，以确保测试结果的准确性和可靠性。
综上所述，样品的准备和选择对AFM原子力显微镜测试的精确性和准确性至关重要。只有在选择了合适的样品并进行了正确的样品处理后，才能获得准确、可靠的原子力显微镜测试结果