原子力显微镜AFM是利用检测样品表面与细微的探针针尖之间的相互作用力(原子力)测出表面的形貌。探针尖尖在小的轫性的悬臂上,当探针接触到样品表面时···
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原子力显微镜力硬件结构之检测部分和位置检测部分的介绍
原子力显微镜AFM是由IBM公司的Binnig与史丹佛大学的Quate于1985年所发明的,其目的是为了使非导体物品也可以在显微镜下进行观测。
原子力显微镜AFM是利用检测样品表面与细微的探针针尖之间的相互作用力(原子力)测出表面的形貌。探针尖尖在小的轫性的悬臂上,当探针接触到样品表面时···
原子力显微镜AFM是由IBM公司的Binnig与史丹佛大学的Quate于1985年所发明的,其目的是为了使非导体物品也可以在显微镜下进行观测。