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常用测量薄膜厚度的方法较多,可以分为光学方法和非光学方法。非光学方法包括台阶仪法、afm原子力显微镜划痕法等。

通过下面介绍读懂afm原子力显微镜在电池/微观形态/晶体结构的应用

原子力显微镜为扫描探针显微镜家族的一员，具有纳米级的分辨能力，其操作容易简便，是目前研究纳米科技和材料分析的很重要的工具之一。

​原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器，现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、化工、生物研究和科研院所各种纳···

afm原子力显微镜在生物膜相互作用实验中的应用

afm原子力显微镜应用于传统中药饮片产地鉴定中质地的定量化指标介绍