原子力显微镜实际上就是通过原子之间的细微作用力来进行基本成像。原子力显微镜AFM可以合理的把纳米级探针适当的固定在对于力比较敏感的、容易操控的弹···

原子力显微镜是什么和原子力显微镜研究时的一些基本术语解释
原子力显微镜AFM是利用检测样品表面与细微的探针针尖之间的相互作用力(原子力)测出表面的形貌。探针尖尖在小的轫性的悬臂上,当探针接触到样品表面时···

原子力显微镜力硬件结构之检测部分和位置检测部分的介绍
原子力显微镜AFM是由IBM公司的Binnig与史丹佛大学的Quate于1985年所发明的,其目的是为了使非导体物品也可以在显微镜下进行观测。