在定位观察薄膜时,可采用碳纳米管定位法以及针尖打孔定位法对所观察的样品进行定位,该方法可实现对样品进行离位处理之后再次精确定位。在测量高分子薄···
AFM原子力显微镜测试样品的制样要求介绍
原子力显微镜是一种高分辨率表面形貌和物理性质测量技术，能够直接观测纳米级别的表面形态、粗糙度、力学性质等。在进行AFM原子力显微镜测试前，需要对···
AFM原子力显微镜测试样品的制样要求总结
原子力显微镜是一种高分辨率表面形貌和物理性质测量技术，能够直接观测纳米级别的表面形态、粗糙度、力学性质等。在进行AFM原子力显微镜测试前，需要对···