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如何选购合适的原子力显微镜？

原子力显微镜可以通过悬臂扫描特定区域来完成样品的表面形貌成像，激光束被用于检测悬臂靠近表面。

原子力显微镜AFM在一定程度上弥补了普通扫描显微镜的缺陷，提高了检测的分辨率。

众所周知，显微镜的发明把人们的视野从宏观世界带到了微观世界，原子力显微镜的出现是人们观察微观世界的又一个里程碑。

纳米复合材料进行科学的发展和纳米制备方法技术的进步，将需要不断更新的测试数据技术和表征手段，以评价研究纳米粒子的粒径、形貌、分散和团聚状况。

1986年原子力显微镜 AFM诞生，弥补了扫描隧道显微镜（STM）不能观测非导电样品的缺陷。