原子力显微镜可以检测金属。AFM原子力显微镜是一种基于针尖与样品之间原子作用力的探测技术,不要求样品具有导电性,因而可以用于研究金属、半导体、绝···

AFM原子力显微镜扫描样品表面形貌时通过什么方式驱动探针
原子力显微镜在扫描样品表面形貌时,通过压电陶瓷三维扫描器来驱动探针。以下是对AFM原子力显微镜驱动探针方式的详细解释:一、基本原理 原子力显微镜···

AFM原子力显微镜在半导体计量中的应用介绍
原子力显微镜在半导体计量中的应用非常广泛,其高分辨率和纳米级别的探测能力使其成为半导体行业中不可或缺的分析工具。以下是对AFM原子力显微镜在半导···