原子力显微镜作为纳米尺度表征的核心工具,其工作模式的选择直接影响实验结果的准确性与样品完整性。本文从技术原理、适用场景及实际案例出发,系统解···

AFM原子力显微镜在半导体材料领域中的应用介绍
原子力显微镜作为一种基于扫描探针技术的高分辨率显微仪器,在半导体材料领域展现出了广泛且深入的应用价值。其独特的纳米级分辨率与多功能性,使其成···

AFM原子力显微镜在力学研究领域中的应用介绍
原子力显微镜作为纳米科技领域的核心工具,自1986年发明以来,已从单纯的表面形貌成像设备发展为集力学、电学、化学等多维度表征于一体的综合性分析平···