早期研制的为接触式原子力显微镜,它包括恒力模式和恒高模式。前者利用反射光位移引起的光电二极管输出电压的变化构成反馈回路控制压电陶瓷管伸缩,···

AFM原子力显微镜测试主要测试什么?对样品有什么要求
AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是应用范围广,可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成···
AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是应用范围广,可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成···