原子力显微镜（探头扫描式） WY- LS-AFM

◆性能特点：
实现样品保持不动，探针移动扫描的商业化原子力显微镜。

样品尺寸、重量几乎不受限制，特别适合超大的样品检测。

样品台可拓展性强，非常便于进行多仪器联用实现原位检测。

电动控制样品移动台和升降台，可任意编程多点位置实现快速自动化检测。

龙门架式扫描头设计，大理石底座，真空吸附和磁性吸附式载物台。
马达自动控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式，保护探针及样品。
高倍辅助光学显微定位，实时观测与定位探针以及样品扫描区域。

集成扫描器非线性校正用户编辑器，纳米表征和测量精度优于98%。

◆测量范围及应用：

测量范围：二维、三维、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

应用：纳米材料、石墨烯、薄膜、钝化膜、短切玻纤复材、分子筛、TiO2、CrPS4（15）、CrPS4（16）、中空纤维膜丝、粗糙度测试、四氧化三铁、M13-PBA等。

◆ 应用案例 Application Case