原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用于研究固体材料表面结构的分析仪器，包括绝缘体。它通过检测待测样品的表面和微力敏感元件之间尤微弱的原子之间的相互作用力来研究物质的表面结构和性质。固定一对尤其敏感的微悬臂的一端，另一端的小针尖接近样品，然后它将相互作用，使微悬臂变形或运动状态发生变化。扫描样品时，使用传感器检测这些变化，可以获得力分布信息，获得纳米分辨率的表面结构信息。
应用简述
H74在冷冻环境中的应用相对成熟。优良的导热胶已成功应用于原子力显微镜样品板的结构粘接。它对陶瓷和金箔有很好的附着力。并具有低温固化的特点，显著降低了应力问题。
可靠性：
H74可以再700℃在高温下持续工作5分钟，无明显问题。
此外，如果需要在某些冷冻条件下使用，我们建议在室温下固化更软的产品，如T7109-19or T71