以前的原子力显微镜（Atomic Force Microscope,AFM）的轻敲模式（tapping mode）都要调整比例增益（proportional gain,PG）和积分增益（integral gain,IG），而且具体值与样品有关，没有有效的自动化方案。
一般的调整方法是先调整IG，IG小时针调整缓慢，大时针调整快，更容易与样品表面一致，但过大会产生自激振荡，不能反映样品的形状。
所以调IG你需要知道你的样品的表面形状，比如找一个平坦的地方，逐渐增加IG，至看到正扫（trace）和回扫（retrace）振荡不重合
略有振荡然后逐渐减少IG，当振荡基本消失时，正扫和回扫基本重叠，样品的表面形状应基本反映。
然后再调PG，PG一般为IG 150%到250%，原则是使正扫和回扫更加重合，曲线更加美。
调整后，可以扫出更好的形状以上是波大电镜中心的用户指南所写，并结合了我若干年AFM使用经验。
正因为PG 和IG调起来比较麻烦，需要经验，新的AFM型号（比如Bruker Dimension Icon）出了个叫ScanAsyst新模式，不再让针尖颤抖扫描样品，基本上不需要调整参数可以扫描相当好的图像，速度也可以比以前的轻敲模式快。
