原子力显微镜的探针长度只有几微米长,一般由悬臂梁和针尖组成,主要原理是将原子力介于针尖和试验样品之间,使悬臂光束产生精细位移来测量表面结构的...
原子力显微镜力硬件结构之检测部分和位置检测部分的介绍
原子力显微镜AFM是由IBM公司的Binnig与史丹佛大学的Quate于1985年所发明的,其目的是为了使非导体物品也可以在显微镜下进行观测。
原子力显微镜AFM是由IBM公司的Binnig与史丹佛大学的Quate于1985年所发明的,其目的是为了使非导体物品也可以在显微镜下进行观测。